溫度強迫系統接觸式高低溫測試 ATC840
用于需求高溫、低溫、高低溫進行測試/溫度控制的工藝,如:材料特性分析、溫度循環測試、快速溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。
溫度強迫系統接觸式高低溫測試 ATC840
接觸式高低溫設備是針對芯片可靠性測試而研發的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操作簡單方便,體積小巧,噪音低等特點。
接觸式高低溫設備是針對芯片可靠性測試而研發的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操作簡單方便,體積小巧,噪音低等特點。接觸式高低溫設備是針對芯片可靠性測試而研發的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高低溫設備(熱流儀、溫箱等)相比具有升降溫效率高,操作簡單方便,體積小巧,噪音低等特點。
應用場景:
桌面手動測試
配合測試機使用(ATE)
優點
快速溫度轉換循環。
結構精密、減少占地面積的要求
溫控精度±1℃
不用外置冷水機和壓縮空氣
結溫控制
噪音較低
局部測試
在線測試
應用場景:
桌面手動測試
配合測試機使用(ATE)
優點
快速溫度轉換循環。
結構精密、減少占地面積的要求
溫控精度±1℃
不用外置冷水機和壓縮空氣
結溫控制
噪音較低
局部測試
在線測試