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  島津ICPE-9000
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  菲力爾FLIR T 系列紅外熱成像儀
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  天平臺實驗室家具
  日立 SU3500掃描電子顯微鏡
  日立 S-3700N掃描電子顯微鏡
  日立FlexSEM 1000掃描電子顯微鏡
  蔡司 GeminiSEM 系列產品高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡
  阻尼隔振光學平臺
  蔡司 FIB-SEM 電子顯微鏡Crossbeam系列
  蜂窩隔振光學平臺精密光學平臺
  荷蘭進口定制NEMESIS 9800 系列硬度測試系統
  氣浮擺桿隔振光學平臺 ZDT-B系列
  荷蘭INNOVATEST洛氏硬度計NEMESIS 6200
  日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡
  拼接式光學平臺
  荷蘭INNOVATEST塑料球壓痕硬度計NEMESIS 5100 系列
  日本電子JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡
  日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡
  氣浮型隔振光學平臺 ZDT-P系列
  FEI 透射電子顯微鏡Talos F200X 材料科學應用
  FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用
  FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學應用
  蔡司 Primotech 光學顯微鏡
  島津HS20頂空進樣器
  拍擊式篩分儀AS200tap德國萊馳
  RETSCH篩分儀全新空氣動力篩分儀AS200jet
  德國RETSCH（萊馳）AS300control分析篩分儀
  德國RETSCH（萊馳）AS200系列分析篩分儀
  EXPEC 7000型電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）

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EXPEC 7000型電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）

詳細摘要： EXPEC 7000型電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-15 在線留言
德國RETSCH（萊馳）AS200系列分析篩分儀

詳細摘要：德國RETSCH（萊馳）AS200系列分析篩分儀
產品型號：所在地：更新時間：2024-02-01 在線留言
德國RETSCH（萊馳）AS300control分析篩分儀

詳細摘要：德國RETSCH（萊馳）AS300control分析篩分儀
產品型號：所在地：更新時間：2024-01-30 在線留言
RETSCH篩分儀全新空氣動力篩分儀AS200jet

詳細摘要： RETSCH篩分儀全新空氣動力篩分儀AS200jet
產品型號：所在地：更新時間：2024-01-28 在線留言
拍擊式篩分儀AS200tap德國萊馳

詳細摘要：拍擊式篩分儀AS200tap德國萊馳
產品型號：所在地：更新時間：2024-01-28 在線留言
島津HS20頂空進樣器

詳細摘要：島津HS20頂空進樣器
產品型號：所在地：更新時間：2024-01-24 在線留言
蔡司 Primotech 光學顯微鏡

詳細摘要：蔡司 Primotech 光學顯微鏡
產品型號：所在地：更新時間：2023-12-24 在線留言
FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學應用

詳細摘要： FEI掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學應用
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-30 在線留言
FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用

詳細摘要： FEI掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-29 在線留言
FEI 透射電子顯微鏡Talos F200X 材料科學應用

詳細摘要： FEI透射電子顯微鏡Talos F200X 材料科學應用
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-27 在線留言
氣浮型隔振光學平臺 ZDT-P系列

詳細摘要：氣浮型隔振光學平臺 ZDT-P系列
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-25 在線留言
日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

詳細摘要：日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-25 在線留言
日本電子JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡

詳細摘要：日本電子JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-24 在線留言
荷蘭INNOVATEST塑料球壓痕硬度計NEMESIS 5100 系列

詳細摘要：荷蘭INNOVATEST塑料球壓痕硬度計NEMESIS 5100 系列
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-24 在線留言
拼接式光學平臺

詳細摘要：拼接式光學平臺
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-23 在線留言
日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡

詳細摘要：日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-23 在線留言
荷蘭INNOVATEST洛氏硬度計NEMESIS 6200

詳細摘要：荷蘭INNOVATEST洛氏硬度計NEMESIS 6200
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-23 在線留言
氣浮擺桿隔振光學平臺 ZDT-B系列

詳細摘要：氣浮擺桿隔振光學平臺ZDT-B系列
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-21 在線留言
荷蘭進口定制NEMESIS 9800 系列硬度測試系統

詳細摘要：荷蘭進口定制NEMESIS 9800 系列硬度測試系統
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-21 在線留言
蜂窩隔振光學平臺精密光學平臺

詳細摘要：蜂窩隔振光學平臺精密光學平臺
產品型號：所在地：更新時間：2023-11-20 在線留言