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蘇州多威儀器設備有限公司
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功能：納米粒度/Zeta電位(顆粒或平板)分布分析儀分析范圍：DelsaNanoC納米粒度/Zeta電位分布分析儀：0
功能：納米粒度/Zeta電位(顆粒或平板)分布分析儀
分析范圍：
DelsaNano C 納米粒度/Zeta電位分布分析儀 ：0.6nm - 7um(粒度測量范圍)
0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)
DelsaNano S 納米粒度分布分析儀：0.6nm - 7um(粒度測量范圍)
DelsaNano Z 納米粒度分布分析儀：0.6nm - 30um(Zeta電位測量范圍)
應用原理技術：光子相關光譜分析法,電泳/光散射法
適用范圍：醫藥品,食品飲料,蛋白質,生物工程,配方 穩定性,墨水,油墨,半導體,固液界面電位等等
技術特點：
- 可選傳統的前散射或背散設粒度測量
- 可選檢測器前置光圈加強精度與分辨率
- 可選對數或線性相關儀針對多種不同分散度樣品
- 可選特強電場針對難度高樣品
- 可選測量溫度低至5度
- 30mW激光源為標準規格
- 備石英,塑料一次性,毛細管和高濃度樣品池
- 多點測量Zeta電位分布加強精度
- 分析過程實時報讀粒度和粒度變化趨勢
- 粒度與Zeta電位均以平均值和分布圖/列表表達
- 全自動SOP操作模式可供連續測量多個SOP
- Zeta電位測量同時測量液體導電率
- 提供專業分散劑輔助納米分散
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